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关于红磷知识

它是一种容易燃烧的物质，却可以用作塑料、橡胶的阻燃剂，如果不是试验的真实结果，是很难让人相信的。红磷阻燃的机理比较复杂，一般认为是这样的，含有红磷的聚合物材料在燃烧时，红磷首先燃烧，生成五氧化二磷，五氧化二磷是一种强的吸水剂，快速脱去聚合物中的氢、氧元素，生成偏磷酸、磷酸等衍生物，聚合物材料表面则生成致密的焦炭层，阻断空气中的氧进入聚合物材料，从而阻断燃烧。红磷的主要成分是单质磷，它的含量一般用x射线荧光光谱仪来检测。

EDX4500P  红磷测试仪

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平 

最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元 

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头 

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

EDX4500P技术参数

产品型号：EDX 4500P

产品名称：X荧光光谱仪 

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同） 

同时分析元素：一次性可测几十种元素 

测量时间：30秒-200秒 

探测器能量分辨率为：145±5eV

管压：5KV-50KV 

管流：50μA-1000μA

测量对象状态：粉末、固体、液体

输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃ 

环境湿度：35-70

样品腔体积：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

EDX4500P标准配置

高效超薄窗X光管 

SDD硅漂移探测器 

数字多道技术

光路增强系统 

高信噪比电子线路单元 

内置高清晰摄像头 

自动切换型准直器和滤光片 

自动稳谱装置 

三重安全保护模式 

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

EDX4500P应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素、红磷管控）

EDX 4500P  X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对ROHS重金属元素以及磷元素进行快速、准确、无损分析。

红磷作为阻燃剂来管控，虽然暂时并未纳入RoHS管控，但是目前限于市场要求，很多国际品牌客户如松下、索尼、三星、LG、海尔等品牌都对此对红磷要求。我司推出一款针对ROHS+无卤+无磷仪器EDX4500P.该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

江苏天瑞仪器股份有限公司

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。 天瑞仪器的发展得到了中国各级政府的大力支持与帮助，现任中共中央政治局常委、十二届全国人大常委会委员长张德江，现任中共中央政治局常委、政协第十二届全国委员会主席俞正声，时任中共中央政治局委员、国务院副总理等各级领导多次来访视察工作公司被授予 “国家火炬计划重点高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有国际领先的技术水平，X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家重点新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供专业解决方案。天瑞仪器将以“行业技术领导者”的姿态，不断探究世界分析领域的巅峰。为客户提供更加先进的产品和更加满意的服务。天瑞仪器营业网点遍布全国:

天瑞仪器发展历程

2011年1月25日，天瑞仪器在深证创业板块上市。股票代码为300165。

2011年4月25日，天瑞仪器推出SUPER XRF 2400，其超微量元素检测的独特功能将传统XRF性能提升数倍。

2011年4月26日，在2011中国科学仪器发展年会上，天瑞仪器被授予“2010年度最具影响力国内仪器产商”及“2010年度最佳网络营销奖”。

2011年5月18日，天瑞仪器董事长刘召贵博士喜获国务院特殊津贴。

XRF

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

原理

X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出的电子会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。

波长

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z? s) ?2式中K和S是常数。

能量

而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为：

E=hν=h C/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。

因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

分类

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。

因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：

波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)