X射线荧光分析仪产品资料和技术参数介绍，X射线荧光分析仪产品是在天瑞仪器多年XRF检测技术和经验基础之上研发的一款新型高端X射线荧光光谱测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现超高计数率，1秒出，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品精确定位

性能特点

快,1秒钟出

1、采用行业先进的极速探测器技术——（SDD）分辨率最低至125eV

优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好

对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低

2、采用行业先进的数字多道技术

优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率超过600KCPS

3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统

优势：使贵金属的激发效率更高

4、光闸系统

优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度

精密的定位系统

超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点

多点测试

2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试

超小样品检测——最小可测到0.2毫米

8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择

准直器最小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测

可高效区分99.9及黄金纯度

可测量贵金属中有害元素，铅、镉等

人性化的设计

更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动

更快捷：多点测试，点哪测哪

预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试

预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫(S)～铀(U)

检出限：分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm

元素含量分析范围：2ppm～

探测器：SDD探测器，分辨率最低可达125eV

管流：≤1000uA

管压：5～50kV

测量时间：1s或以上(可调)

滤光片：4种滤光片自由切换

准直器：8种准直器自动切换

样品观察：高清工业摄像头

环境湿度：≤70

环境温度：15℃～30℃

制冷方式：电制冷，无需任何耗材

输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源

仪器配置

SDD探测器

数字多道分析系统

X射线源

高低压电源

准直器滤光片系统

精密移动平台

光闸系统

样品观测系统

电子控制系统

计算机及喷墨打印机

应用领域

ROHS检测仪

镀层测厚

合金分析

不锈钢分析

卤素检测

首饰加工厂

金银珠宝首饰店

贵金属冶炼厂

质量检验部门

分析测试中心

典当行

回收