xrf910镀层测厚仪 天瑞

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  • 产品规格:
  • 发货地:江苏省苏州昆山市
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xrf910镀层测厚仪
详细说明
元素范围从硫到铀 检测限1ppm 重复性0.1 测试误差15% 分辨率160ev X光管0-50kv 电源电压220V 环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款EDX 2000C。 
应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
性能优势:
下照式:可满足各种形状样品的测试需求 
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用 
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点 
高分辨率探测器:提高分析的准确性 
新一代高压电源和X光管:性能稳定可靠,实现更高的测试效率
仪器配置:
移动样品平台 
信噪比增强器 
电制冷Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
新型X光管 
计算机及喷墨打印机
xrf910镀层测厚仪
X射线荧光光谱仪有多种,以能量色散和波长色散为主。
1. 能量色散荧光光谱仪
能量色散型仪器大的优点是不破坏被测的材料或产品,也不需要人员操作,缺点是对铬和溴是总量测定(一般不影响使用,因为很多情况可以判定,如测铬总量超标,常可知是不是六价铬超标,特别是溴,如被作为阻燃剂加入,不管是那种溴,总量超标就不合格)。
进口或国产的各种能量色散荧光光谱仪技术水平虽有差别,但已够应对RoHS检测,用户应根据自己的能力来选购国产或进口的。国产的XR-306能量色散X射线荧光光谱仪也能满足RoHS的检测。
2.波长色散荧光光谱仪。
此种仪器的灵敏度比能量色散的高一个数量级,也就是说,所测的数据并不存在“灰色地域”,不存在测定后还需拿到检测机构复检。但仪器的价格比能量色散的贵很多,
 特别是进口的百万元以上,所以没有外国公司建议用。仪器操作和能量色散一样,不需要人员。
国产BX-100R是波长色散荧光光谱仪。价格比进口的能量色散型的还便宜,使用寿命也比能量色散的长一倍(主要指探测器,能量型的一般为5年,波长型的一般为10年)。
波长型大优点是用在原材料厂上,其测定的数据准确,给生产厂以确信的合格材料。
缺点是,波长法需将被测材料粉碎压制成样本后测才准确。所以,用在材料厂适合。如不制成样本(非破坏),会因材料表面形状不同而产生不同误差。
xrf910镀层测厚仪
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司、四川天瑞环境科技有限公司六家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司三家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
xrf910镀层测厚仪
技术指标:
元素分析范围:硫(S)~铀(U) 
分析含量:0.1ppm~99.9%
重复性:0.1%
稳定性:0.1%
环境温度:15℃~30℃ 
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
仪器配置:
超锐X光源和样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器,滤光片 
高清晰CCD摄像头 
Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
计算机及喷墨打印机 
X荧光分析软件
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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