XRF分析仪器是利用X射线无损检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

超薄窗X光管，指标达到国际水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

天瑞仪器公司是全球生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球的合金分析技术，配备合金测试效果的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。



EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试开发的仪器类型。 
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。 
同时具有合金测试、合分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。 
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。

性能特点:

超薄窗X光管，指标达到国际水平 
针对合金的测试而开发的配件 
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 
天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高处理能力25倍以上 
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好 
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性； 
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制； 
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

标准配置：

合金测试超薄窗X光管 
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器 SNE
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序 
整体钢架结构，力度可靠的保证 
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm 
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

技术指标：

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U） 
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
分析精度：0.05%（含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性） 
测量时间：60秒-200秒 
能量分辨率为：（140±5）eV 
管压：5KV-50KV 
管流：50uA-1000uA

应用领域：

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

国产xrf光谱仪介绍

EDX4500 国产X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。
该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

性能特点

的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度：0.05% （对含量96%以上元素） 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s  
能量分辨率为：（±5）eV  
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器 
光路增强系统 
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片 
的升降平台 
加强的金属元素感度分析器 
外观尺寸： 650×608×466 mm 
样品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg 

超薄窗X光管，指标达到国际水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 
天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高处理能力25倍以上 
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去

测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

仪器技术指标：
1、分析元素范围 ： 从硫（S）到铀（U）
2、测试对象：固体、粉末、液体
3、元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
4、同时分析元素：几十种元素同时分析
5、任意多个可选择的分析和识别模型
6、相互的基体效应校正模型
7、多变量非线性回归程序
8、多次测量重复性可达：0.05％ (含量大于96%的样品)
9、工作温度:15℃—30℃  
10、工作湿度：≤70%  
11、工作电压：220V AC
12、样品腔尺寸：*100mm
13、仪器尺寸：212*258*258mm
14、仪器重量：5kg
15、建议测量时间 10-200S可以调

仪器配置：
1、探测模块：Si-PIN
2、X射线源：40kV、100uA
3、准直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自动切换
4、滤光片：内置Al Ti Cu
5、样品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，软件安装在Microsoft Windows CE系统操作灵活简单，很好的支持PDA系统升级和软件升级
7、指示和警告：电源指示灯，警告灯
8、保护系统：上盖打开时，高压自动关闭
9、样品放置：配万向测试支架，随心放置各种样品
10、报告输出：蓝牙打印
11、安全防护箱：400*300*350mm，4.5kg

应用领域
主要应用黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
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