天瑞能量色散X荧光光谱仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保特点，采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-7《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-43《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。

性能特点

三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试X荧光分析软件
与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图
采用世界上的SDD硅漂移探测器，分辨率至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的测试
精选全球组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
测量对象状态：粉末、固体、液体
同时分析元素：30种元素同时分析
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
能量分辨率为：140±5ev
测量时间：60s-200s（可调）
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
环境温度：10℃-30℃
环境湿度：35%-70%
输入电压：AC 110V/220V
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
样品腔尺寸：334×500×80mm
外观尺寸：670×533×855 mm
重量：80kg

标准配置

美国Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配）
软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）

应用领域

黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。
分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等

贵金属分析仪性能及配置
分析范围  1ppmto99.99%
测量精度  RSD≤0.015% Au≥90%
测试形态固体、粉末、液体
光管电压  5KV~50KV（USA）
高压电源  0~50KVSpelln(USA) 
光管管流  0μA~1000μA
摄像头  高清摄像头
滤光片   可选择多种定制切换
探测器   SDD（USA）
分辨率   ±5eV
多道分析器 DMCP
样品腔尺寸310*280*60（mm）
测试时间    30sec~100sec
感兴趣元素贵金属 Au,Ag,Pt,Pd,Ru,Rh,W,Os,Ir,etc(等).
基本金属 Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Cd,Sn,Pb,etc（等）.
分析软件FP定性定量分析软件
外部尺寸380*372*362（mm）
重量    31Kg
仪器环境要求
环境温度15°C~30°C
相对湿度35%~75%
电源要求AC220V±5V,50/60HZ,附近无大功率电磁和振动干扰源

贵金属分析仪
硬件特性：符合严格的防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高，性能好，寿命长；全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高；配备高清晰的摄像定位系统，测量更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具。
激发源：Mo的X光管风冷（无）
测量点尺寸：1～2mm
样品室：长400mm×宽：300mm×高：0～90mm样品放大成像系统
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机：选择配置
检测器：固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格：
电压：100～127或200～240V，50／60Hz
功率：120W
处尺寸：500mm＊500mm＊400mm
重量：48kg
技术指标
分析范围：1％～99.99％
测量时间：自适应
测量精度：±0.1％
测试环境：常温常态
分析元素：Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD、W
X射线源：X射线光管
高压器：4～50Kv
分析：多通道模拟
操作系统：Windows2000／Me／XP
镀层测量：
镀层厚度范围＜30μm
可测量元素种类：Au、AG、PT、Pd、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD
测量层数：5层
测量精度：0.03μm

天瑞新型X荧光贵金属检测仪 EDX 3000 PLUS 在测量金、银、铂、钯等贵金属含量上功能到。采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果完全符合国标GB/T 43-2000要求。
黄金贵重，仪器贵精。EDX 3000 PLUS闪耀的亮点在于超高度、超高分辨率、更清晰的摄像头、一键式智能操作，一切让贵金属检测如此简单！
性能优势
超高分辨率，世界：
采用世界上的SDD硅漂移探测器 ，分辨率为139±5ev ，而常规的Si-PIN探测器，分辨率为160±5eV， 能更好的检测铂金中铱和金的含量。
超高度，性能优：
使用25mm 2大面积铍窗探测器，大大提高样品特征X荧光的接收能力。配合数字多道分析器技术，提高分析速度，总体提高系统处理能力，计数率可达8万，比Si-PIN 6m­m2探头提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰摄像头，定位：
采用新型工业级相机，样品图像更加清晰，轻松实现定位。
小准直器，轻松实现精小部位测试： 
提供多种准直器，直径小达0.2mm，可轻松实现精小部位的测试，同时可根据测试需求电动切换准直器，使测量更加轻松更加准确。
一键式智能式操作，省去选曲线烦恼：
FP法的完整使用，只需一键操作即可智能化自动匹配曲线，操作一步到位。
技术参数
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm级
分析含量一般为ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.02％（含量96％以上）
长期工作稳定性为0.05％（含量96％以上）
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：139±5eV
仪器配置
样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
数字多道分析系统
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
质量：45Kg
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
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