镀层测厚仪产品详细资料介绍，镀层测厚仪配置和产品构造请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供镀层测厚仪产品原理说明书和产品报价。微米级的金属镀层厚度分析通常用到x射线荧光分析技术，由原子外层电子跃迁所产生光谱能量叫x射线荧光，不同金属的荧光光谱能级不同，从而有了成分分析和厚度分析的基础。
镀金镀银厚度测试仪产品的应用介绍
一：仿真饰品：
K金、镀金、镀银等首饰饰品称为仿真饰品。
仿真饰品市场稂莠不齐，价格相对便宜、成分不明的饰品，经常会发生情况，很多佩戴者对“镍”“铅中毒”等知之者并不多。
美国、欧盟等国家和地区，对仿真饰品产品有毒有害物质都有着严格的限定，特别是对儿童仿真饰品，美国消费品安全会CPSC要求铅含量小于 600ppm/kg，欧盟也对镍含量有着严格的规定。
2007年1月至11月，美国消费品安全协会累计要求召回中国产儿童饰品27次，共计582.02万件，召回原因主要涉及铅含量超标。
2009年我国《仿真饰品中有害物质的要求及检测方法》标准草案通过审定并实施。


二：解决方案：
我公司针对《仿真饰品中有害物质的要求及检测方法》及美国、欧盟等国家和地区的限定，投入了大量的精力，为各生产厂家量身定做简单可行的解决方案：X荧光光谱仪检测，能快速无损的对有害物质进行检测，并且只需要一台设备就能完全满足仿真饰品检测要求。


三：适用仪器：
型号：Thick800A
性能特点：1. 采用天瑞技术――特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）；2. 具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化；3. 准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求；4. 大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便。5.配备功能齐全的测试软件。


仿真饰品行业的应用实例
金属(铜合金镀金)中Pb的测试


1、测量参数


靶材：Zr靶
测量条件：45kV/600uA
测试时间：200s
标样：镍白铜313(Pb：60ppm)
测试图谱
下图实谱表示纯铜rc101（Pb，0ppm）即本底、红色虚谱为 镍白铜313(Pb：60ppm)


2、测试数据


本底多次测量的平均值及相对标准偏差：


下图表示为镍白铜中Pb的工作曲线： 


工作曲线的斜率：tan0.21=0.0036
镍白铜313(Pb：60ppm)中Pb检出限：(3×0.013)/ 0.0036 (工作曲线斜率)
=10.8ppm



测试数据：



镀金镀银厚度测试仪产品技术参数
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护


技术指标


型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

X-ray射线镀层测厚仪
型号：Thick800A 
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X萤光镀层测厚仪产品说明、技术参数及配置

仪器介绍


Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司五家全资子公司和厦门质谱仪器仪表有限公司、江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司三家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

售后服务：
我公司所有售出仪器提供全国各地的免费上门仪器安装，操作培训，安全细节等，参加培训人数不限；保修期内，可为用户的运维人员提供不定期的免费培训，差旅费用由用户自行承担。培训内容为仪器分析原理、结构、操作、维护保养、简单维修、软件使用、进行方法建立、样品测试等；技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后， 4 小时内响应， 24 - 72 小时内赶到现场。

X射线荧光镀层检测仪，型号thick800a


制造厂商：江苏天瑞仪器股份有限公司


产品图片：




主要技术指标：


1、仪器尺寸：


外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，


测试时，可开盖，对样品长度无限制


检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。


样品台尺寸：230(W)×210(D)mm


移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm


Z轴升降平台升降范围：0-140mm


2、仪器重量：90kg


3、SDD半导体探测器：  


探测器输入电压：±12V，+5V


探头窗口面积：25mm2


探头窗口厚度：0.5mil


分辨率：140±5eV


探头内制冷温度：<-40℃


4、X射线光管：


管压：5-50kV


管流：0-1mA


靶材：W靶


窗口：铍窗


制冷方式：风冷


工作温度：≤75℃


5、高压发生器：


输入电压：24V


输入大电流：5A


管压：0-50kV


管流：0-2mA


灯丝大电压：5V


灯丝大电流：3.5A


6、MCA多道分析器：


输入电压：±12V，+5V


采样频率：100 KHZ


脉冲幅度：0-7.6V


A/D位数：12位


分析道数：2048道


7、准直器系统：


准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)


滤光片：Mo(可根据要求选配)


8、高清晰摄像头： 


传感器类型：CCD（彩色）


接口：USB2.0


传感器厂商：索尼


快门类型：面阵


光学尺寸：1/4英寸


有效像素：659(H)×494（V）


有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)


像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：


感应度：0.58V（索尼标准）


颜色排列：RGB


帧率：30fps


快门速度：1/1538-1/30（秒）


9、自动对焦系统：


通用数字激光传感器、CMOS激光传感器


实现样品高度的自动对焦。

天瑞X射线膜厚测试仪性能介绍及配置：


此型号为Thick800a



详细配置信息：


一、硬件：主机壹台，含下列主要部件：  


(1)  X光管（牛津）           (2)Si-PIN电制冷半导体探测器（美国AMPTEK）  


(3)    信号检测电子电路        (4)    高精度二维移动平台


(5)    高清晰摄像头            (6) 高低压电源(SPELLMAN)


(7)  开放式样品腔            (8）双激光定位装置


(9)  铅玻璃屏蔽罩


二、软件及其他：天瑞X射线膜厚测试仪FpThick分析软件V1.0


2.1    计算机、打印机各一台


计算机（联想，内存2G,硬盘500G液晶显示屏19寸）、Intel Pentium G3220中央处理器


打印机（佳能，彩色喷墨打印机）


2.2    资料：器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。


2.3    标准附件


 准直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可选其中一种）


（已内置于仪器中）


天瑞X射线膜厚测试仪产品图片：





     性能描述：
   
      满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护


天瑞X射线镀层测厚仪使用环境：


 环境温度要求：15℃-30
环境相对湿度：<70%
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。


天瑞X射线镀层测厚仪技术指标：



分析元素范围：K-U


同时可分析多达5层镀层


分析厚度检出限高达0.005μm


定位精度：0.1mm


测量时间：5s-300s


计数率：0-8000cps


Z轴升降范围：0-140mm


X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)






铜镀镍件膜厚仪测试谱图





样 品 名


成分Ni(%)


镀层Ni(um)


吊扣


100


19.321


吊扣2#


100


19.665


吊扣3#


100


18.846


吊扣4#


100


19.302


吊扣5#


100


18.971


吊扣6#


100


19.031


吊扣7#


100


19.146


平均值


100


19.18314


标准偏差


0


0.273409


相对标准偏差


0


1.425257


铜镀镍件测试值


分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm，仪器重量：30kg


应用领域


X荧光镀层厚度测试仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。


天瑞仪器对X射线膜厚仪提供的售后服务体系：


软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供升级软件，如需上门升级按技术服务条款收取相关费用；免费保修1年， 免费保修期内，维修相关费用全免；


技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。


非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务（如增加测试功能和数据校正等），乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
    我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
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