rohs测定仪器 元素分析仪

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  • 产品规格:
  • 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
rohs测定仪器
详细说明
元素范围从硫到铀 检测限1ppm 重复性0.1 测试误差15% 分辨率160ev X光管0-50kv 电源电压220V 环境温度15-30度
ROHS检测仪产品详细资料和技术参数介绍,ROHS检测仪报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保卤素rohs检测仪报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力,对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪,是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
对一些元素有很好的检测下限以及精度。综合应用FP法、网络法、经验系数法、基本参数法分析软件。精心设计的开放性工作曲线功能,特别适用于多材料的工厂制程控制。
适用于:五金、接插件、电子,电气,连接器,电镀,PCB,塑料,皮革,鞋材等来料的ROHS分析,重金属分析。
产品特点:
1、从硫(S)到铀(U)的快速元素分析;
2、检测灵敏度高;
3、测量时间短;
4、彩色CCD系统用于样品图像观察;
5、有多种规格的准直器和滤光片选用,自动切换,满足各种物质测试方式应用;
6、电制冷探测器,提高测量稳定性,提高分析的准确性,无需耗材;
7、机械结构简单,可靠;
8、定性定量分析算法:FP基本算法,经验系数法、网络法、基本参数法;
9、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计,更好地保障操作员的人身。流水线型外观,美观,仪器内部空间大样品腔,仪器内部通风性优,并有效屏蔽电磁干扰;
10、超短光路设计,风冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序,散热更好,良好的散热系统,更能保证仪器的超长使用,并能有效的X光管的寿命;
11、上照式:可满足各种形状样品的测试需求,样品成像准直系统,实现对样品的准确点测;
12、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成,设置了自动防护开关,以确保用户使用。
rohs测定仪器
技术指标:
元素分析范围:硫(S)~铀(U) 
分析含量:0.1ppm~99.9%
重复性:0.1%
稳定性:0.1%
环境温度:15℃~30℃ 
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
仪器配置:
超锐X光源和样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器,滤光片 
高清晰CCD摄像头 
Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
计算机及喷墨打印机 
X荧光分析软件
rohs测定仪器
RoHS适用行业
1.大型家用电器:大型制冷器具、冰箱、冷冻箱、其它用于食品制冷、保鲜和储存的大型器具等。2.小型家用电器:真空吸尘器、地毯清扫机、其它清洁器具、用于缝纫、编织及其它织物加工的器具等。3.信息和通讯设备:数据处理器、个人计算机、打印机、复印设备、电气电子打字机、台式和袖珍计算器等。4.消费类产品:收音机、电视机、录象机、录音机、高录音机、功放机、音乐仪器、其他记录或复制声音、图象的产品或设备。5.照明设备:荧光灯具(家用的照明设备除外)、直型荧光灯、紧凑型荧光灯、高亮度放电灯等。6.电气电子工具:电钻、电锯、缝纫机,对木材、金属或其它材料进行车削、铣、砂磨、研磨、锯削、切割、剪切、钻孔、冲孔、折叠、弯曲或类似加工的设备等。7.玩具、休闲和运动设备:电动火车或、手持电子游戏机、电子游戏机、用于骑自行车、潜水、跑步、划船等的测算装置;带有电子或电气元件的运动设备。8.设备(被植入或被感染的产品除外):放射设备、心脏用设备、装置、肺呼吸机、核设备等。9.监测和控制仪器:烟雾探测器、发热调节器、温控器、家用或实验室设备用测量、称重或调节器具、工业安装(如在控制板上)中所用的其它仪器。10.自动售卖机:热饮料自动售卖机、瓶装或罐装热饮料或冷饮料自动售卖机、固体产品自动售卖机、钱票自动售卖机、所有自动送出各类产品的器具。说明:目前第八 、九类设备、监测和控制仪器暂不受RoHS指令限制、但是设备和设备及其零部件自2014年7月22日起应符合RoHS2.0标准要求。
rohs测定仪器
玩具法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等)、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
分析原理:
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪,其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=KE
式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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