电镀层测厚仪 X射线荧光铜镀银测厚仪 膜厚控制仪
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- 产品规格:
- 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
X射线荧光铜镀银测厚仪
详细说明
分析范围0-50微米
分析精度5%
最薄测试0.005微米
仪器架构上照式
仪器重量90公斤
分析时间30S
Thick800A是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。昆山市市场局通过走访座谈、问卷调查等方式,筛选了多家企业,选取了天瑞仪器作为商业秘密示范点建设单位。会上,市场局就我公司成为昆山商业秘密保护示范点给予了充分肯定和高度评价,并为构建完善的商业秘密保护系统提出了宝贵的意见和建议,旨在进一步加强对商业秘密的管理,以促进我公司健康、稳步、飞跃发展。

作为国内化学分析行业的,拥有多年累积的分析测试仪器的技术和实力,产品广泛应用于有色金属行业中的地质考察、矿产、冶炼、加工、实验室研究、生产制造等环节。作为此次会议的协办方,还特地安排了学者们来公司参观考察,天瑞仪器总经理应刚热情的接待了考察团一行。

测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
测量注意事项:
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

为了进一步促进推进我国有色金属化学元素分析检测技术进展与产业升级,促进应用范围的不断加深与扩大,切实解决当前本领域内关注的热点、焦点和难点问题;3月29日—3月31日,由中冶有色技术平台、中冶有色技术网主办,江苏天瑞仪器股份有限公司(以下简称天瑞仪器)协办的“有色金属化学元素分析检测技术交流会”(以下简称交流会)在昆山成功举行。
2013年,天瑞仪器控股厦门质谱。
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