x荧光测厚仪型号 膜厚测定仪
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- 产品规格:
- 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
x荧光测厚仪型号
详细说明
分析范围0-50微米
分析精度5%
最薄测试0.005微米
仪器架构上照式
仪器重量90公斤
分析时间30S
Thick800A是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
2、性能优势
精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果
3、技术指标
分析元素范围:从硫(S)到铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至eV
采用的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃
测厚仪产品特性
★进口高精度传感器,保证了测试精度
★严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
★测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差
★手动、自动双重测量模式,更方便客户选择
★配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果
★打印值、小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据
★仪器自动保存多100组测试结果,随时查看并打印
★标准量块标定,方便用户快速标定设备
★测厚仪配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小
★软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户
★配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输
此次天瑞仪器授牌为商业秘密保护示范点,将有效地加大公司商业秘密保护力度,切实保护公司商业秘密核心知识产权,更好的推动公司的创新发展。今后,天瑞也将发挥出示范作用,配合,推进更多示范点建设,共同做好商业秘密保护工作。
昆山市市场局通过走访座谈、问卷调查等方式,筛选了多家企业,选取了天瑞仪器作为商业秘密示范点建设单位。会上,市场局就我公司成为昆山商业秘密保护示范点给予了充分肯定和高度评价,并为构建完善的商业秘密保护系统提出了宝贵的意见和建议,旨在进一步加强对商业秘密的管理,以促进我公司健康、稳步、飞跃发展。
2017年4月24日,天瑞仪器荣获“具影响力国内生产厂商”;刘召贵博士荣获“2016科学仪器行业企业年度人物”; WDX-4000顺序式波长色散X射线荧光光谱仪获评“2016科学仪器行业新产品”。
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