XRF产品原理和参数详细介绍，XRF技术说明和资料请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供XRF光谱仪报价和培训手册。XRF由于无需化学前处理，快速分析，一键测试操作简单的特点，以及适用范围广德优势深受实验室人员的欢迎。
相比市场上同类厂商，天瑞仪器有着明显的优势。天瑞仪器的产品线更全，客户在选购分析设备时，可以找到合适的产品。天瑞仪器的优势在于其雄厚的研发实力，目前在岗的XRF研发人员达40人，可以根据客户的需求进行定制，对软件和硬件的研发都可以更快更好的完成并应用于下一代产品。
仪器信息网：这些年，XRF不断向小型化发展，手持式/便携式XRF产品逐渐增多，您如何看待XRF仪器小型化发展？贵公司有哪些手持式/便携式XRF产品？其优势是什么？
XRF小型化发展是市场需要所致，主要原因是客户在使用中对现场及原位分析的要求越来越多，快速检验需求越来越明显，所以手持式和便携式的XRF逐渐增多。天瑞仪器于2008年开启了对手持式和便携式XRF的研发工作，截止目前，其手持式产品已经发展到第六代EXPLORER系列，便携式产品也已经发展到第2代Cube系列。在国内，天瑞仪器开始XRF小型化、便捷化研究相对较早，且更新换代较快、系列产品非常全面。

技术指标:
测量元素范围：硫（S）～铀（U） 
测量时间：1s或以上 
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9
稳定性：0.02
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换 
滤光片：4种滤光片自由切换 
样品观察：高清工业摄像头 
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃ 
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
仪器配置:
X-SDD探测器 
数字多道分析系统 
X射线源 
高低压电源
准直器滤光片系统
精密移动平台
光闸系统
样品观测系统 
电子控制系统 
计算机及喷墨打印机
测试实例:
使用EDX 9000C仪器对汽车配件玻璃样品进行测试，测试时间1秒，其测试谱图和数据如下图：
使用一秒时间能完成测试，且测试结果精度满足测试需求。使用EDX 9000C仪器在满足测试精度的基础上可以大大 
的缩短测试时间。

X射线荧光光谱仪（XRF）（点击进入XRF专场）具有谱线简单、不破坏样品、操作简便、测定迅速等优点，广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、、考古、难融化物和建材工业等领域。
为加强用户与仪器企业之间的信息交流，向用户提供新的XRF新产品新技术，以及更丰富、的解决方案，仪器信息别策划了“方兴未艾 XRF新发展”专题，并邀请到XRF市场上的主流生产商们，请他们谈谈对XRF技术及应用新进展的看法。
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

国产XRF测试仪EDX3600K配置：
铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
超薄窗X光管
信噪比增强器SNE
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互立的基体效应校正模型
国产XRF测试仪技术参数：
X射线源：50KV、1mA
样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配速探测器低至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
摄像头：高清摄像头
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以
准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，低检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作环境湿度：≤90
操作环境温度：15℃～30℃
EDX4500P应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素、红磷管控）
EDX 4500P  X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对ROHS重金属元素以及磷元素进行快速、准确、无损分析。
红磷作为阻燃剂来管控，虽然暂时并未纳入RoHS管控，但是目前限于市场要求，很多国际客户如松下、索尼、三星、LG、海尔等都对此对红磷要求。我司推出一款针对ROHS+无卤+无磷仪器EDX4500P.该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
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