XRF产品原理和参数详细介绍，XRF技术说明和资料请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供XRF光谱仪报价和培训手册。XRF由于无需化学前处理，快速分析，一键测试操作简单的特点，以及适用范围广德优势深受实验室人员的欢迎。
国产XRF测试仪EDX3600K配置：
铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
超薄窗X光管
信噪比增强器SNE
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互立的基体效应校正模型
国产XRF测试仪技术参数：
X射线源：50KV、1mA
样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配速探测器低至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
摄像头：高清摄像头
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下，大气、氦气均可以
准直器和滤光片：四组准直器（7、5、3、1mm），6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，低检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作环境湿度：≤90
操作环境温度：15℃～30℃

正是由于各个行业对XRF的不同需求，导致了XRF仪器从“单一”走向“专一”。比如应用于粮食行业重金属检测的XRF，虽然需要测试的元素与RoHS检测的元素一致，但其要求精度更高，因此无法使用RoHS检测仪去检测粮食中的重金属元素。所以，在天瑞仪器2010年上市后，针对各个行业应用领域，开发了不同型号的产品，截止目前，天瑞仪器的XRF产品已达几十种，每个领域几乎都开发了二到三款产品，覆盖低、中、，可供该行业的客户选择。例如在RoHS行业中，天瑞仪器就研制了EDX1800B、EDX1800BS、EDX1800E、 EDX1800BH、EDX4800H等型号，还有便携式的EXPLORER3000型可用于原位查验；在贵金属行业中公司有EDX600 PLUS、EDX3000、EDX3000 PLUS、EDX6800等产品；而粮食行业中天瑞仪器也开发了EDX3200S PLUS、EDX3200S PLUS C、EDXX3200S PLUS D、 EDXX3200S PLUS X等型号；不仅如此，公司还研发了应用于地矿行业的EDX3600H系列、应用于石油石化行业的EDX5500H系列、针对电渡行业的THick600系列、应用于环境土壤行业的EXPLORER9000系列等；还有应用于水泥和耐材等行业的波散XRF，从固定道的WDX200、WDX400扩展到了顺序道的WDX4000等，以及应用于其他行业的仪器等。

XRF优点、缺点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
缺点
a）难于作分析，故定量分析需要标样。
b）对轻元素的灵敏度要低一些。
c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。

性能特点
超薄窗X光管，指标达到国际水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
EDX4500P技术参数
产品型号：EDX 4500P
产品名称：X荧光光谱仪 
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
测量时间：30秒-200秒 
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV 
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35-70
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
EDX4500P标准配置
超薄窗X光管 
SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重保护模式 
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
EDX4500P应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素、红磷管控）
EDX 4500P  X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对ROHS重金属元素以及磷元素进行快速、准确、无损分析。
红磷作为阻燃剂来管控，虽然暂时并未纳入RoHS管控，但是目前限于市场要求，很多国际客户如松下、索尼、三星、LG、海尔等都对此对红磷要求。我司推出一款针对ROHS+无卤+无磷仪器EDX4500P.该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
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