环保rohs检测仪器产品详细资料和技术参数介绍，环保rohs检测仪器报价和配置请咨询江苏天瑞仪器股份有限公司提供edx1800B环保rohs检测仪器报价。利用大功率X射线管和半导体探测器的高分辨力，对元素含量进行定性定量测试的荧光光谱仪，是适合ROHS指令有害物质测试的检测光谱仪
玩具法规在全世界范围内不断完善，如欧盟的《玩具指令》、美国的玩具标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具标准。这些标准对于玩具企业来说，执行这些标准责无旁贷；至于说到管控成本过高的问题，其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具检测设备，X荧光光谱仪是经济有效的检测设备，它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、汞、硒等）、包装物料的有毒元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞环境科技有限公司六家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司三家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

相比之前的传统的ROHS检测仪，虽然它们大多型号也能在原基础升级为卤素测试，但需在硬件和软件上做较大的改动，且成本较高，目前市场上的能测ROHS和卤素的仪器都是分体式设计，成本较高些，而天瑞的EDX1100在算法软件上，将ROHS测试和卤素测试一体化，两者化二为一，等于是一个整体，在产品成本上大大得到了压缩，也等于是直接让利了客户，相比之前分体式设计也能同时检测ROHS和卤素的机台，EDX1100的一体化设计，成本至少降低了30，EDX1100也采用的是新一代的铍窗X大功率光管，寿命提高了5000小时，在应用上属于通用于ROHS检测仪器，广泛应用于塑胶，五金，电子电器，化工等生产和制造领域环保临测。
技术参数
测量元素范围 ：硫（S）～铀（U）测量时间：200S
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm含量范围：1ppm～99.9稳定性：0.01管压：5～50KV管流：≤1000uA探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV准直器：6种准直器自动切换滤光片：5种滤光片自由切换样品观察：高清工业摄像头环境湿度：≤70环境温度：15℃～30℃电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

对一些元素有很好的检测下限以及精度。综合应用FP法、网络法、经验系数法、基本参数法分析软件。精心设计的开放性工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
适用于：五金、接插件、电子，电气，连接器，电镀，PCB，塑料，皮革，鞋材等来料的ROHS分析，重金属分析。
产品特点：
1、从硫（S）到铀（U）的快速元素分析；
2、检测灵敏度高；
3、测量时间短；
4、彩色CCD系统用于样品图像观察；
5、有多种规格的准直器和滤光片选用，自动切换，满足各种物质测试方式应用；
6、电制冷探测器，提高测量稳定性，提高分析的准确性，无需耗材；
7、机械结构简单，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，经验系数法、网络法、基本参数法；
9、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计，更好地保障操作员的人身。流水线型外观，美观，仪器内部空间大样品腔，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰；
10、超短光路设计，风冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散热更好，良好的散热系统，更能保证仪器的超长使用，并能有效的X光管的寿命；
11、上照式：可满足各种形状样品的测试需求，样品成像准直系统，实现对样品的准确点测；
12、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成，设置了自动防护开关，以确保用户使用。
分析原理：
ROHS检测仪是X射线荧光光谱仪，其分析原理也是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
m.jstryq.b2b168.com