x射线荧光镀层测试仪
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- 产品规格:上照式
- 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
镀层测试仪
详细说明
分析范围0-50微米
分析精度RSD 5
最薄测试0.005微米
仪器架构上照式
仪器重量90公斤
分析时间30S
探测器SDD
X射线管100W
尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
温度范围15-30度
湿度小于70
准指孔0.2mm
电源电压220V
thick800a镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果
技术指标
分析元素范围:从硫(S)到铀(U)
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1
稳定性:可达0.1
SDD探测器:分辨率低至eV
采用的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90
操作环境温度 15℃~30℃
天瑞仪器作为国内大型分析仪器制造厂商,定期开展分析仪器培训服务,包括理论知识与现场实际操作以及使用规范等,旨在提高用户对天瑞仪器产品应用操作及后期运维的能力,让大家在实际操作中得心应手。现场进行培训的仪器有EDX1800B能量色散X荧光光谱仪、THICK800A X荧光镀层测厚仪、GCMS6800气相色谱质谱联用仪、LC310液相色谱系统、OES8000S直读光谱仪以及环境试验箱操作培训。会根据客户实际需求,培训节奏紧凑且具针对性,天瑞仪器技术工程师们通过精心授课,现场操作教习,为参会提供了的学习机会,使其能够正确、的使用仪器。
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