专业生产XRF测试仪十大品牌
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- 产品规格:
- 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
专业生产XRF测试仪十大品牌
详细说明
合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)
天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合金牌号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
性能特点:
高效超薄窗X光管
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性;

XRF分析仪器是利用X射线无损检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到0CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
技术参数
产品型:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35-70
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
标准配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

国产xrf光谱仪介绍
EDX4500 国产X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99
同时分析元素:24种元素同时分析
功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度:0.05 (对含量96以上元素)
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 650×608×466 mm
样品腔尺寸:?315×95mm
重量:105kg
高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到0CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器(SNE),提高处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的新型高端测试仪,采用新一代探测器及多道技术,实现超高计数率,1秒出结果,准确分析贵金属含量。同时,具备二维平台及高清工业摄像头,实现样品定位。(可对99.99黄金进行有效分析)
性能特点
快,1秒钟出结果
1、采用行业先进的极速探测器技术——(SDD)分辨率至125eV
优势:探测面积大(面积达25m㎡)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高,探测信噪比更强,检出限更低
2、采用行业先进的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现超高计数率,保证采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势:使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头,更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制,多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能,可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米,针对超小样品可准确聚焦检测
可高效区分99.9及99.99黄金纯度
可测量贵金属中有害元素,铅、镉等
人性化的设计
更安全:X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷:多点测试,点哪测哪
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机,关机前可设定声光提示
技术参数
测量元素范围:硫(S)~铀(U)
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm
元素含量分析范围:2ppm~99.99
探测器:SDD探测器,分辨率可达125eV
管流:≤1000uA
管压:5~50kV
测量时间:1s或以上(可调)
滤光片:4种滤光片切换
准直器:8种准直器自动切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70
环境温度:15℃~30℃
制冷方式:电制冷,无需任何耗材
输入电压:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
仪器配置
SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密平台
光闸系统
样品观测系统
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天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合金牌号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
性能特点:
高效超薄窗X光管
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性;

XRF分析仪器是利用X射线无损检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到0CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
技术参数
产品型:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35-70
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg
标准配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

国产xrf光谱仪介绍
EDX4500 国产X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99
同时分析元素:24种元素同时分析
功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度:0.05 (对含量96以上元素)
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 650×608×466 mm
样品腔尺寸:?315×95mm
重量:105kg
高效超薄窗X光管,指标达到国际先进水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到0CPS,精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器(SNE),提高处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的新型高端测试仪,采用新一代探测器及多道技术,实现超高计数率,1秒出结果,准确分析贵金属含量。同时,具备二维平台及高清工业摄像头,实现样品定位。(可对99.99黄金进行有效分析)
性能特点
快,1秒钟出结果
1、采用行业先进的极速探测器技术——(SDD)分辨率至125eV
优势:探测面积大(面积达25m㎡)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高,探测信噪比更强,检出限更低
2、采用行业先进的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现超高计数率,保证采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势:使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势:样品更换无需关闭高压,提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头,更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制,多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能,可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米,针对超小样品可准确聚焦检测
可高效区分99.9及99.99黄金纯度
可测量贵金属中有害元素,铅、镉等
人性化的设计
更安全:X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动;仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷:多点测试,点哪测哪
预约预热:根据设定时间,仪器可定时开始测试
预约开机预热功能:客户可预约仪器开机时间,同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态;同时可以实现预约关机,关机前可设定声光提示
技术参数
测量元素范围:硫(S)~铀(U)
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm
元素含量分析范围:2ppm~99.99
探测器:SDD探测器,分辨率可达125eV
管流:≤1000uA
管压:5~50kV
测量时间:1s或以上(可调)
滤光片:4种滤光片切换
准直器:8种准直器自动切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70
环境温度:15℃~30℃
制冷方式:电制冷,无需任何耗材
输入电压:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
仪器配置
SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密平台
光闸系统
样品观测系统
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