1.光谱分析仪（辐射计）系统优点
光谱分析仪（辐射计）系统采用世界先进的全息平场凹面衍射光栅和高性能带电子快门控制技术的线性CCD阵列探测器组成。并采用控制杂散光技术、精密阵列探测器电子驱动技术和宽动态线性技术，整个系统达到杂散低、动态范围宽、毫秒级的测试速度及传统机械式光谱仪的高精度要求。
2.光谱分析仪（辐射计）系统组成

CMS光谱分析仪（辐射计）、积分球、精密交直流电源、校准定标系统及其他高精度仪器等组成。
3.光谱分析仪（辐射计）系统参考标准（LED模组、LED灯、LED灯具的光色电参数测量部分标准）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光谱分析仪（辐射计）系统测量参数：  

色品坐标（x,y）、相关色温、光通量、光效、能效指数（EEI）、能效等级、显色指数、颜色质量量表、色品坐标（u,v）、色品坐标（u`,v`）、主波长、色纯度、峰值半宽度、色比、光辐射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨视觉光通量、中间视觉光通量及电参数等参数。

电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，大约经过10-8秒以后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程称原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。

光学多道OMA（OpTIcal MulTI-channel Analyzer）是近十几年出现的采用光子探测器（CCD）和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。由于OMA不再使用感光乳胶，避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变，大大改善了工作条件，提高了工作效率：使用OMA分析光谱，测盆准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中，特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。

技术性能及指标

1.   分光室设计

  帕邢-龙格结构,罗兰圆直径400mm

  波长范围140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒温33℃±0.2℃

  特殊材质铸造，保证光室形变小

  间歇式真空系统，可保证真空泵运行时间小于5

2.   凹面光栅

  刻线密度3600l/mm

  一级光谱线色散率：1.04 nm/mm

3.   检测器

  高性能线阵CMOS

4.   分析时间

  依样品种类而不同，一般少于40秒

5.   激发光源

  全数字等离子火花光源技术

  高能预燃技术 (HEPS)

  频率100-1000Hz

  电流1-80A

6.   激发台

  3mm样品台分析间隙

  喷射电极技术

  特殊设计的气路系统，保证氩气消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 长900mm 宽600 mm

  120 kg

8.   功率

  功率0W

  待机功率70W
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