古陶瓷成分分析仪
  目前使用XRF分析仪对瓷器和青铜器等进行元素成份分析已经成为一种广泛应用、极受欢迎，并且具有标准的支持且性能可靠的方法。与化学试剂测试法相比，使用XRF对古董进行分析是一种更迅捷、更经济的元素检测方法。EDX-9000分析仪为用户提供了一种操作方便，且性价比极高的检测技术，无需江检测工具深入到被测样品中，也不会损害被测样，更不需要熔样或细微的损坏，即可获得样件（古董）中的化学成份信息。无论您是研究机构，还是爱好收藏古董的藏友，您都需要掌握一种快的古董元素分析方法。XRF技术操作方便，普通人均可在我公司的专业培训下，在极短的时间内快速掌握测试技能。 
EDX-9000性能优势和特点: 
高分辨率、高清摄像头、便捷操作 
无损、快速、准确的检测、人性化界面 
易于使用，一键操作 
机身结构结实，外形美观大方，适合于陈列室，博物馆展览等 
分析速度快 
使用电脑连接控制，可迅速方便地制作样件检测结果证书 
摄像头及舱内照明装置，可查看样件测试位置 
仪器测试数据可以和上传网络，便于分享 
可靠的电源过流和短路保护，仪器安全性能高 
欧洲心，情-全系欧美核心技术和原装件，外加国内权威古陶瓷数据库（硅酸盐） 
应用范围： 
测定青铜器中的元素成份 
测定古瓷器中的元素成份 
测定金银器中的元素成份 
测定铁器等元素成份

EDX8000L荧光光谱仪可检测类型器主要包括瓷器，青铜器，金银器，等各类文物。其测试原理是利用先进的光谱技术对物品中的原料配制的化学组成，如瓷器中的釉料化学成分配比值，青铜器中铜质配比值，金银器中金银比重及微量元素配比值，玉器中质地成分含量值，角质器中角质成分含量值等进行测定及光谱分析，并将测试得出的数据与文物数据库中标准数据进行比对.根据因不同年代，不同地区，不同质地甚至不同地质特点而产生的细微成分差别来准确定位被检测器的年代、产地等信息。因而是目前世界上先进科学准确同时也被广泛认可的测试仪器。检测具体方法是，将器物或从器物上所取样本放入机器内，根据不同质地的器物选配适当的光谱头，经抽真空后机器开始进行光谱测试，从而测出器物内部所含化学成分或其物质含量，再将所测试出的数据通过与文物数据库数据比对，得出对比结果，出据检测报告。

DX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测必备的科学检测仪器。历史博物馆、收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。

技术指标

型：EDX8000L     
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.01微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：30s—200s 
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
输入电压：AC 110V/220V 
消耗功率：200W  
环境温度: 15-26℃ 
相对湿度: ≤70

标准配置

超薄窗大面积的原装进口Fast SDD探测器
数字多道系统
可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
X光管
多变量非线性回归程序
相互的基体效应校正模型。
三重安全保护模式
外观尺寸： 800×710×1360 mm
样品腔尺寸：590×550×600mm
重量：280kg

文物因其特殊的属性而具有较高的观赏价值和经济价值，正因为这样，大量的假货、赝品充斥市场也就在所难免了，为了辩识文物的真伪，文物鉴定工作越来越受到社会各界的广泛关注。文物鉴定在大百科全书中被定义为：运用科学方法分析、辩识文物年代、真伪、质地、用途和价值的工作。这里所说的科学方法包括通常所说的传统鉴定方法和现代仪器分析方法，传统的鉴定方法是指凭借自古以来人们在对文物进行长期的研究、鉴识中积累的经验，基于器型学、金石学以及考古地层学的理论，以分类、比较、辩识的方法对器物进行直观的综合考察，此方法对鉴定人员的阅历、经验有较高的要求。其鉴定的真实性、可靠性和权威性已然受到越来越多的赝品和品的挑战，现在，越来越多的人开始将眼光投向了更为客观的仪器分析方法。

　　文物鉴定
　　断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面，其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本与各地制陶原料的化学组成可以确定古陶瓷的产地，并可在一定程度上帮助判断古陶瓷的烧造年代；而通过检测保留在古陶瓷内部的记录其年代信息的各种载体，则可以较准确的进行断代。
　　能量色散X荧光能谱(EDXRF) 是以X射线照射到样品表面，利用能谱仪测定各种元素的特征X射线光子的能量和强度，以此来进行定性和定量分析。这种方法样品处理很简单，分析速度快，测量元素范围广，配合适当的标准参考物可得到较好的准确度，对样品表面基本无损伤，如果在仪器定制时加装真空大样品室，就可以进行大器物的无损测试了。综合这些优点，可以认为它是目前进行古陶瓷无损鉴定比较好的一种方法。
　　陶瓷器的鉴定曾经一度受到不可采样的限制，仅对一些大型器物底部取样作些热释光的年代分析工作，一些造假者甚至利用射线源对新烧的仿制品进行辐照处理，以期对热释光的检测造成假象，干扰测试结果的结论。自打八十年代以来，大样品室的X射线荧光能谱仪问世，瓷器的釉表面成分原位无损检测既成事实，为瓷器的真伪判别引入了一种全新的方法。近一两年，由于河南汝窑遗址的发现，文物市场上一时间汝窑瓷器泛滥，各种形制、颜色的汝窑器着实让人眼花缭乱。在使用X射线荧光能谱仪对其瓷釉表面成分进行无损分析的过程中粗略统计了一下，民间收藏的待测品以上都是假货，其中大多数瓷釉成分中含有现代瓷釉制造的添加剂，而这些组分是宋代瓷釉中不可能出现的成分，用能谱仪检测此类器物可谓是轻而易举、手到擒来。我们知道绝大多数瓷釉的基本组分是由十种元素即：钠、镁、铝、硅、磷、钾、钙、钛、锰、铁的氧化物构成，不同时代、窑口烧造的瓷釉其组成成分的配比是有区别的，正因如此，我们可对大量经科学考古发掘的有确定年代和出土地点依据的参考瓷片釉层成分做出成分配比的数值分布范围，将受鉴定样品的成分配比与相应时代的参考片成分进行比对，据此判断被检样品在成分构成上的可靠性，实践证明，当前文物市场中周转的陶瓷器文物，有半数以上成分配比与古瓷片有较大差距，另有相当一部分含有古代瓷器瓷釉中所没有的组成成分，如、氧化钡、氧化锆等现代瓷釉添加剂，对于这类赝品瓷器，通过成分检测可以非常容易的认定其属性。如仿汝瓷釉含氧化锆、。

　　解决方案
　　我公司生产的EDX8000L系列的仪器是专门针对于古文物检测而量身定做的无损测量的能量色散X荧光分析仪器，其技术参数如下：

　　分 析 范 围: 1PPM-99.99
　　同 时 分 析: 几十种元素同时分析
　　测镀层厚度至0.01微米
　　测 量 对 象: 固体、粉未、液体
　　测 量 时 间: 60-300 秒
　　测 量 精 度 : 0.05
　　分 析 元 素: Na-U
　　工 作 温 度: 15-26℃
　　相 对 湿 度: ≤70
　　重 量 : 280KG
　　功 耗: 200瓦
　　超大抽真空样品腔：600*600*1000mm3

　　我公司研制生产的EDX8000L型的仪器，利用历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照古陶瓷数据库便可以达到断代断源的。同时为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司特意根据行业需要制作超大型的抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。

　　EDX8000L型的仪器再测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测必备的科学检测仪器。
 
　　标准配置
　　1. 电制冷UHRD探测器
　　2. 内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍
　　3. 可自动切换型准直器和滤光片
　　4. 光路增强系统
　　5. 内置高清晰摄像头
　　6. 加强的金属元素感度分析器
　　7. 智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
　　8. 面光源
　　9. 放大电路
　　10. 高低压电源
　　11. X光管
　　12. 多变量非线性回归程序
　　13. 相互的基体效应校正模型。
　　14. 三重安全保护模式
 
　　应用领域
　　1. 古陶瓷
　　2. 古青铜器
　　3. 古首饰
　　4. 镀层测厚

考古行业古陶瓷分析专家X荧光分析仪测量原理：放置样品杯于测量位置，低能X射线管发出X射线激发样品，使样品中不同元素产生出各自的特征X射线，这些特征X射线进入探测器产生脉冲，经脉冲谱仪放大器送入处理器，处理电路将模拟转换成数字量，送入单片机接口，软件通过控制接口电路来进行谱数据的采集与控制。分析软件通过对各种特征X射线的强度计算与分析，完成古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、 Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量；青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Cu、Ni、Zn等）等的化学成份含量检测。通过科学可靠的软件分析和处理，实现断代断源的结果。技术指标： 
1．测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）。
2．样品类型： 液体、粉末、固体等。
3．测量时间：2秒-200秒。
4．分析范围：ppm—99.99 。  
5．分析精度：0.05。  
6．镀层厚度：薄至0.01微米。 
7．激发系统：应用微聚焦高效长寿命X光管及高压电源，指标达到国际先进水平。功率50W。管压5-50KV ，管流0-1000uA。
8．探测系统：原装进口电制冷探测器。超薄窗、大面积、高计数率，良好的能量线性、高峰背比、高分辨率。
9．供电电源：交流220V,50/60HZ。  
10．消耗功率：200W。    
11．工作温度：15--26℃。  
12．相对湿度: ≤70。  
13．外观尺寸： 800×710×1360 mm。
14．样品腔尺寸：600×600×1000mm。
15．重量：280kg。
应用领域1．EDX-8900系列X荧光分析仪应用于考古学中古物年代鉴定：古陶瓷、青铜器、金器等金属文物和是古代文明的瑰宝，对世界文化和现代文明都具有重要的影响。现行的考古工作中,如何探究文物所藏成为有待解决的问题
。陶器：陶瓷的元素组成与特定的地理环境有关。因此，EDX-8900系列X荧光分析仪成为了考古作业的重要工具，在文物保护和鉴定方面提供了可靠的数据。陶瓷样品荧光分析仪检测结果准确性：元素SiO2Al2O3CaOTiO2Fe2O3K2OMgONa2O标准值69.3313.40.770.465.272.591.290.荧光值69.0113.620.740.425.382.611.350.71偏差0.32-0.220.030.04-0.11-0.02-0.06-0.07标准值67.1825.0.791.052.672.060.490.24荧光值67.4225.460.761.122.522.160.560.31偏差-0.240..03-0.070.15-0.1-0.07-0.07标准值.1225.630.570.954.613.20.440.35荧光值.0125.350.620.934.523..520.41偏差0.110.28-0.050.020.090.05-0.08-0.06
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