矿产勘查是矿业投资成功率、风险、回报不确定的阶段，在矿产勘查阶段，投资蕴藏着极大的风险。随着我国矿产资源勘查和矿业工作发展战略从过去的外延式发展为主转而侧重于内涵式发展和战略性转变，开始重视对矿产资源勘查开发的有效投入，促进矿产资源投资主体多元化，在减少财政投资经费的同时鼓励商业性矿产勘查与开发。

我国商业性矿产地质勘查体制的框架已初步形成，矿业权制度逐步完善，市场主体正在形成，商业性矿产地质勘查活动已经开始，这大大的加强了各大矿业公司对矿产的勘探和投资力度，但对于矿业公司来说，勘查的分析工具并没有各地质勘查局那么全面，这样就制约了各大公司的发展，而且如果目前还采用传统的化学滴定法来对样品进行测试的话，其效率太低，人为误差大。而天瑞仪器股份有限公司制造的各种分析仪器能帮助各种勘探单位对矿产进行勘探，提高效率，分析，大大缩短勘探时间，加快我国矿产地质勘查事业的发展。

Genius7000用于矿产勘探，进行原位测试分析，地表土壤成份的分析。它具有体积小、重量轻、分析速度快，精度高，普通人可手持测量的特点，它已广泛应用于各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析中。检测样品包括从硫至铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥 浆等，形态为固体、液体、粉末等。

地矿检测优势：

1．可实现对矿样类别的快速识别，多元素自动定性定量分析以及多种矿样模式选择和无限数目模式的添加。
2．内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。。
3．带GPS功能，用于地质矿物勘探、普查；野外矿石的原位检测；可以把数据加入GIS系统。在野外可以随时搜索卫星，在测试时可以随时记录测量的经纬度、海拔高度和卫星数目，并随测试报告同时保存。
4．快速普查大范围矿区，有效测定地带模式，进行矿山矿石分布图的绘制，做到可以优先开采富矿区。
5．洗矿过程中原矿、精矿和尾矿的检测。
6．原矿和精矿采购中矿石品位的测定。
7．能进行轻元素模式测试。可以测Mg、Al、Si、P、S等轻元素。
8．设备自带有高清摄像头，可以很直观的看到要求检测的矿脉或矿化点部位。

环保土壤重金属行业应用案例

土壤重金属普查：仅需简单点击软件，微量金属元素成分尽在掌握。可以进行大量的土壤普查工作。

土壤重金属污染后的应急处理：能快速追踪污染异常，圈定污染范围。

性能卓越堪比台式机
小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器（世界上的探测器）及微型数字多道处理器三大核心技术的引入，大幅降低测试时间、提高检测精度、减少测试误差，使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。
小巧便携、操作快捷
体积很小，便携、方便野外工作。随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析。
无损检测
整个检测过程被测样品无任何损坏
快速检测
仪器既可手持1-2秒对样品进行快速测试，也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试，10秒即可进行接近实验室精度的测量。
新增轻元素检测功能
较三代手持式X荧光分析仪，增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气。从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品，可直接在待测物表面进行测定，可分析任何样品类型，包括电子电器产品、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。

X荧光分析仪的性能特点
1.大功率光管；
2. 超大窗口面积正比计数盒；
3. 外型小巧，庄重大方；
4. 宽阔样品腔，方便操作及测试较大样品；
5. 手动升降平台确保测试不同大小环状样品；
7．小准直器，利于测试样品小区域；
8. 摄像头与激光定位，可视地准确定位到被测点，测试时激光点自动关闭，利于拍摄清晰照片；
9. 良好的射线屏蔽确保操作人员的安全。

性能指标

分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量
同时检测元素：数几十种元素可同时分析
处理器和内存：CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储支持32G，标配2G，可以海量存储数据。
含量范围：ppm～99.99
检测时间：3-30秒
GPS、WIFI：内置系统
电池使用时间：可充电锂电池，电池电量7800H,可持续工作8小时；配有宽电压110V-220V通用适配器，可交流供电使用。
检测对象：固体、液体、粉末
探测器：25mm2 0.3mil，SDD探测器
探测器分辨率：可达139eV
激发源：50KV/100uA-银端窗一体化微型X光管及高压电源
准直器和滤光片：直径4.0和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换，12种组合，世界上多的组合方式，可满足各种类样品的测试
检测对象：固体、液体、粉末
视频系统：高清晰摄像头
显示屏：半透半反式液晶显示触摸屏，其分辨率是0*480
检出限：检出限达ppm级
检测窗口：12mm
安全性：自带模式，数据可随意保存
可充气系统：常压充氦气系统
数据传输：数字多道技术，SPI数据传输，快速分析，高计数率；
防水迷你U，并且可以外接台式电脑。
操作环境湿度：≤90
操作环境温度：-20℃～+50℃
仪器外形尺寸：234×306×82mm（L×H×W）
仪器重量：1.9Kg（配备电池），1.6Kg（无电池）

X荧光分析仪工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。
从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。
量子力学知识告诉我们，X 射线具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是的普朗克公式：E=hc/λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是完全一样的。
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