x荧光分析仪产品特点： 
1、实时性：国内的X荧光分析仪绝大多数都是“离线的实验室分析仪.极个别的应用到现场的也是“旁线式的仪表,须经过取样、烘干、筛分、研磨、制样等一系列繁杂的样品前处理过程,几个小时之后才能得到分析结果,数据结果有很大的滞后性.本产品1~3分钟即可完成对某道的测量.
2、可靠性：采用常温半导体探测器,在常温下具有与液氮下硅锂漂移半导体探测器相同的能量分辨率,避开了进口多元素分析仪中的硅锂漂移半导体探测器必须的液氮制冷装置,大大降低了现场的维护强度,保障了操作人员的安全性,仪表现场长期运行稳定可靠.
3、代表性强：设计合理的测量装置,测量池内矿浆的流动性好,并混合均匀,测量结果准确反映了矿浆的真实情况。公司可根据用户需求提供各种类型的取样器：重力自流取样器、压力取样器、缩分取样站、配置取样器等。
4、适应性：测量不受浓度、粒度、气泡、速度、分层等现场因素的影响,能够适应各种情况复杂、条件恶劣的工业现场.
5、研制了新颖的核电子技术、核能谱分析技术,能够对多种元素受激发后产生的复杂能谱进行全面分析处理,消除了不同元素之间的相互干扰.
6、工作状态稳定,分析准确度高,可靠性强,操作简单,维护方便,软件界面人性化.
7、与国外同类产品相比有着明显的价格优势,在售后服务上更加便利快捷.

X荧光分析仪工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。
从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。
量子力学知识告诉我们，X 射线具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是的普朗克公式：E=hc/λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是完全一样的。

X荧光分析仪应用领域
钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等。
水泥行业：生料、熟料、水泥、原材料等。
耐火材料:主要包括高硅质的粘土类、高铝质的矾土类、高镁质的镁砂类、高铬质类、各类刚玉等耐火材料。
有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、锡矿、银矿、钼矿等。
电气电子产品行业：针对ROHS六种有害物质检测，主要包括：白家电，如电冰箱、洗衣机、微波炉、空调、吸尘器、热水器等；黑家电，如音频、视频产品、DVD、CD、电视接收机、IT产品、数码产品、通信产品等；电动工具，电动电子玩具、电气设备等。
食品行业：食品中重金属浓度分析。
考古学：古物年代鉴定。
艺术品修复：颜料中金属成分分析。

新一代Genius XRF系列是专门针对在现场，野外进行X荧光分析的应用而设计，具有体积小，重量轻，普通人可手持测量的特点；产品超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点，并在小型X射线仪上引入了数字多道技术，使仪器检出限更好，稳定性更高，适用面更广。

产品包括有害元素分析仪Genius 3000XRF，合金分析仪Genius 5000XRF，矿石分析仪Genius 7000XRF，土壤重金属分析仪Genius 9000XRF等一系列专业型，可充分满足从原料检测，生产过程控制到成品检验中各种元素成分的现场在线分析，金属材料的可靠性鉴别和合快速识别，土壤重金属现场检测，各类地质矿样的野外原位多元素分析等市场需求。

该系列产品通过严格检测和验证，各项指标均符合相关技术要求，技术达国际先进水平。产品已开始批量销售于国内外市场，受到客户的好评，打破国外厂家的垄断。

性能优势

性能卓越堪比台式机
小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器（世界上的探测器）及微型数字多道处理器三大核心技术的引入，大幅降低测试时间、提高检测精度、减少测试误差，使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。
小巧便携、操作快捷
体积很小，便携、方便野外工作。随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析。
无损检测
整个检测过程被测样品无任何损坏
快速检测
仪器既可手持1-2秒对样品进行快速测试，也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试，10秒即可进行接近实验室精度的测量。
新增轻元素检测功能
较三代手持式X荧光分析仪，增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气。从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品，可直接在待测物表面进行测定，可分析任何样品类型，包括电子电器产品、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。
高清摄像头检测更加
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