秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。

 

主机标准配置：

上照式光路系统直射模式     SDD探测器      数字多道处理器    美国进口高压

进口牛津铍窗X射线管       智能测试软件    校正模块内置    封闭式定向散热系统

高阻尼可动防震缓冲支脚     定制CCD高清摄像头

整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵

 

录井行业应用案例

l  岩心成份普查：

仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。

 

l  现时分析

能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟；

 

l  现场分析

    独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务；

 

仪器性能优势：

仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；

测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；

准直器极大化设计使样品受激光斑达mm2 保证测试的丰富性，提高测试度

封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；

分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；

高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；

大面积厚晶体SDD探测器，配上RhX光管以及良好的散热性，有力地确保测试高效稳定；

X射线屏蔽设计和高材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；

产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的新型高端测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现超高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维平台及高清工业摄像头，实现样品定位。（可对99.99黄金进行有效分析）

性能特点

快,1秒钟出结果
1、采用行业先进的极速探测器技术——（SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业先进的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度

精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点

多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试

超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
可高效区分99.9及99.99黄金纯度
可测量贵金属中有害元素，铅、镉等

人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫(S)～铀(U)
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
元素含量分析范围：2ppm～99.99
探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV
管流：≤1000uA
管压：5～50kV
测量时间：1s或以上(可调)
滤光片：4种滤光片切换
准直器：8种准直器自动切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源

仪器配置

SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密平台
光闸系统
样品观测系统

合金测试高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技术指标：
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
m.jstryq.b2b168.com