仪器技术指标：
1、分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
2、测试对象：固体、粉末、液体
3、元素含量分析范围：1ppm—99.99
4、同时分析元素：几十种元素同时分析
5、任意多个可选择的分析和识别模型
6、相互的基体效应校正模型
7、多变量非线性回归程序
8、多次测量重复性可达：0.05(含量大于96的样品)
9、工作温度:15℃—30℃
10、工作湿度：≤70
11、工作电压：220VAC
12、样品腔尺寸：*100mm
13、仪器尺寸：212*258*258mm
14、仪器重量：5kg
15、建议测量时间10-200S可以调
仪器配置：
1、探测模块：Si-PIN
2、X射线源：40kV、100uA
3、准直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自动切换
4、滤光片：内置AlTiCu
5、样品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，软件安装在MicrosoftWindowsCE系统操作灵活简单，很好的支持PDA系统升级和软件升级
7、指示和警告：电源指示灯，辐射警告灯
8、保护系统：上盖打开时，高压自动关闭
9、样品放置：配万向测试支架，随心放置各种样品
10、报告输出：蓝牙打印
11、安全防护箱：400*300*350mm，4.5kg
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业；银
行，首饰销售和检测机构；电镀行业

ROHS测试仪 性能特点：
工作曲线：提供开放性工作曲线功能，根据企业物料情况量身定做zui好的有害元素检测和控制方案；
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用实现了全自动一键测试。
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：采用全球zui先进，分辨率zui高的电制冷SDD半导体探测器，更有利于仪器的稳定性和精度性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达W的功率实现更高的测试效率安全性能：全光路射线防护系统配合经典的三重安全防护设计,同时采用软、硬件双重安全连锁,确保辐射安全性能；
主要技术参数：测试对像：粉未、固体、液体
元素分析范围：钠（Na）铀（U）
含量分析范围：1PPM99.99
测量时间：30200秒
探测器：电制冷SDD半导体探测器
仪器分辨率：127eV5
zui低检出限：Cd/Cr/Hg/Br2ppmPb5ppmCL20ppm
/Se/Ba/Pb/As/Cd/Cr/Hg/Br2ppmPb5ppm，CL5ppm（八大重金属）
多道分析器：2048道
输入电压：AC220V10，50HZ（建议配稳压电源）
额定功率：300W（带电脑）
环境湿度：30--80
外型尺寸：660mm480mm330mm
测量仓：440mm350mmmm
仪器重量：62公斤
标准配置:
高低压电源（美国Spelln进口）
大功率X光管（英国Oxford牛津进口）
电制冷半导体探测器（美国AMPTEK进口）
多道分析器（美国进口）
控制电路
高压单元
样品台
高清晰CCD
准直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个
滤光片：5组滤光片
计算电脑（内存2G、硬盘200G），17寸液晶显示器
打印机：彩色喷墨打印机

应用范围：
RoHS检测分析
地矿与合金（铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测

ROHS测试仪
X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点
高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
较新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围：ppm99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：1455eV
管压：5KV-50KV
管流：50A-1000A
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
样品腔体积：320mm100mm
外形尺寸：660mm510mm350mm
重量：65Kg

标准配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm70mm的状态显示液晶屏
真空泵

环保是世界的潮流，不断出现的环境污染事件，世界各国都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值呈日渐降低的趋势。面对这市场需求，秉承“德谱仪器，无微不至”的精神，采用新技术，特别设计了EDX0系列的X荧光光谱ROHS测试仪。

应用领域：
金属冶金行业微量元素的分析及金属中微量有害元素的分析；
环保土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析；
金属成品制造行业树脂膜层中微量元素的分析；
贵金属行业中微量对人体有害元素微量元素的分析；
稀土行业中微量元素的分析；
金属镀层行业金属镀层亚纳米级厚度的分析；
外贸出口行业中对人体有害元素微量的分析；
玩具出口行业中八大中金属微量元素的分析；

下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净

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