深圳专业生产镀层测厚仪型号
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- 产品规格:
- 发货地:江苏省苏州昆山市
关键词
深圳专业生产镀层测厚仪型号
详细说明
镀层测厚仪可用于、连接器、电镀、线路板、半导体等行业。根据镀层测厚仪技术分类,安柏来经营的测厚仪产品包含:XRF镀层测厚仪、电解式镀层测厚仪、涡流镀层测厚仪、磁感应镀层测厚仪等多种镀层测厚仪产品。根据镀层测厚仪的外形分类,安柏来经营的测厚仪包含:手持式镀层测厚仪、台镀层式测厚仪。安柏来通过提供全方位各领域的镀层测厚仪产品线,让您的镀层测厚问题变得简单。
除了镀层测厚仪,安柏来拥有包括白光干涉膜厚仪、3D轮廓仪、直读光谱仪、手持式探伤仪、扫描电子显微镜、光学显微镜、实验室模拟洗车系统在内的众多产品,以满足客户工业分析及检测的需要。

电镀简单的说就是将接受电镀的部件浸于含有被沉积金属化合物的水溶液中,以电流通过镀液,使电镀金属析出并沉积在部件上。因为用途和材料不同,一般的电镀有镀锌、镀金、镀银、镀铬、镀锡、镀镍和镀铜镍合金等,根据需要镀层又分为一层、二层和多层电镀等。从技术方便来话,电镀的镀层不仅仅要平整还要均匀,而对电镀的镀层厚度要求也要,比如电镀金,镀的太厚,电镀厂家的成本就要增加,而镀的薄了,又可能满足不了客户的需求,所以电镀的膜厚测量也是电镀技术能力和成本的一个重要指标。
专业提供电镀镀层膜厚仪Thick 800A,解决客户镀层膜厚测量的难题
利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。针对检测样本的不同种类,可在下列3种型中进行选择。测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型,能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型,适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型。
兼顾易操作性与安全性
放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险,让用户放心使用。
检测部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。
清晰的样本图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外,亦采用LED作为样本观察灯,无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。
电镀层膜厚仪Thick800A:
测量元素:原子序数13(Al)~92(U)
X射线源:管电压:45 kV
FT:Mo FTh:W FTL:Mo
检测器:Si半导体检测器(SDD)(无需液氮)
型:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
产品优势:
采用非真空样品腔;专业用于PCB镀层厚度,金属电镀镀层分析;可同时分析镀层中的合金成分比列;多镀层,1~5层;

很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀,但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的,合格的产品才会被销往市场上,目前国产镀层测厚仪已经发展的比较完善,现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的,那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么?
1,基体金属特性:对于磁性方法,国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似,所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面;
2,基体金属厚度:国产镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后可以测量;
3,边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量;
4,曲率:对于曲率的测量,不应在试件的弯曲表面上测量,使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的,曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量;
5,读数次数:通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度,测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,保证国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰,因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候,此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向,测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。

基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。
镀层膜厚检测:有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析:精确检测电镀液成分及浓度,确保镀层质量
水质在线监测:有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量,已达到排放标准
RoHS有害元素检测:为电镀产品符合RoHS标准,严把质量关
重金属及槽液杂质检测:有效检测电镀成品,以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X系列在电镀检测行业中,针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
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除了镀层测厚仪,安柏来拥有包括白光干涉膜厚仪、3D轮廓仪、直读光谱仪、手持式探伤仪、扫描电子显微镜、光学显微镜、实验室模拟洗车系统在内的众多产品,以满足客户工业分析及检测的需要。

电镀简单的说就是将接受电镀的部件浸于含有被沉积金属化合物的水溶液中,以电流通过镀液,使电镀金属析出并沉积在部件上。因为用途和材料不同,一般的电镀有镀锌、镀金、镀银、镀铬、镀锡、镀镍和镀铜镍合金等,根据需要镀层又分为一层、二层和多层电镀等。从技术方便来话,电镀的镀层不仅仅要平整还要均匀,而对电镀的镀层厚度要求也要,比如电镀金,镀的太厚,电镀厂家的成本就要增加,而镀的薄了,又可能满足不了客户的需求,所以电镀的膜厚测量也是电镀技术能力和成本的一个重要指标。
专业提供电镀镀层膜厚仪Thick 800A,解决客户镀层膜厚测量的难题
利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。针对检测样本的不同种类,可在下列3种型中进行选择。测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型,能够处理尺寸为600 mm×600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型,适合对陶瓷芯片电极部分中,过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型。
兼顾易操作性与安全性
放大了开口,同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性,并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险,让用户放心使用。
检测部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。
清晰的样本图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外,亦采用LED作为样本观察灯,无需像以往的机型那样对灯泡进行更换。
电镀层膜厚仪Thick800A:
测量元素:原子序数13(Al)~92(U)
X射线源:管电压:45 kV
FT:Mo FTh:W FTL:Mo
检测器:Si半导体检测器(SDD)(无需液氮)
型:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
产品优势:
采用非真空样品腔;专业用于PCB镀层厚度,金属电镀镀层分析;可同时分析镀层中的合金成分比列;多镀层,1~5层;

很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀,但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的,合格的产品才会被销往市场上,目前国产镀层测厚仪已经发展的比较完善,现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的,那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么?
1,基体金属特性:对于磁性方法,国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似,所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面;
2,基体金属厚度:国产镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后可以测量;
3,边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量;
4,曲率:对于曲率的测量,不应在试件的弯曲表面上测量,使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的,曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量;
5,读数次数:通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度,测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,保证国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰,因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候,此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向,测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。

基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。
镀层膜厚检测:有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析:精确检测电镀液成分及浓度,确保镀层质量
水质在线监测:有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量,已达到排放标准
RoHS有害元素检测:为电镀产品符合RoHS标准,严把质量关
重金属及槽液杂质检测:有效检测电镀成品,以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X系列在电镀检测行业中,针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可精准分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
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