更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 9000正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业先进的极速探测器技术（X-SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器专利产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

性能优势

快—1秒钟出结果
采用行业先进的极速探测器技术——（X-SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
采用行业先进的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达1000Wcps
采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：激发效率更高
光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，
关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9
稳定性：0.02
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球的合金分析技术，配备合金测试效果的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。



EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。

性能特点:

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
针对合金的测试而开发的专用配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE），提高处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

标准配置：

合金测试高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器 SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

技术指标：

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
分析精度：0.05（含量高于96以上的样品、21次测试稳定性）
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

应用领域：

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

产品型号：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试专用配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

国产xrf光谱仪介绍

EDX4500 国产X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。
该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

性能特点

专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99
同时分析元素：24种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度：0.05 （对含量96以上元素）
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA

标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 650×608×466 mm
样品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE），提高处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去

测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

ICP测试仪和XRF测试仪哪个更适合?选ICP测试仪还是XRF测试仪?这恐怕对于工作内容主要做催化剂的原料和成品的金属含量分析的实验员来说，是很容易出现的疑问了。如果从购置价格、使用成本和方便程度、分析结果可靠性等几个方便，到底哪种方法更胜一筹?XRF测试仪除了被用来进行材料表面的定性检测，可用来测量元素的总含量吗?准确吗?ICP测试仪检测是仅仅对元素进行表面定性分析吗?它跟XRF测试仪有什么区别?针对这些疑问，看看七嘴八舌的们如何说?你挺谁?XRF测试仪不但在元素定性上有ICP测试仪无可比拟的优点，同时在定量上同样可以和任何一种元素分析仪器相媲美(和制样有关)。所以这条上应该是XRF测试仪和ICP测试仪都可以定量。A：XRF测试仪，样品基本不用前处理，而用ICP测试仪，样品需要进行化学处理为溶液。对于XRF测试仪来说，样品的前处理有很大的技巧性。块状金属，基本上磨一下测量面就可以了，非块状样品如果采用压片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效应会比较严重。采用熔融法肯定是处理样品的一种方式了，只不过形成的是一种固体溶液。而ICP测试仪毫无疑问必须溶成溶液。B：XRF测试仪可以迅速定性，元素定性方面无人能比，像红外在有机官能团定性一样迅速。定量方面，相比看来ICP测试仪定量较为简单实在，易于操作。XRF测试仪做标样和样品处理需要配套的制样设备，包括压片机和熔样炉等，不易操作。但是不能下XRF测试仪不能定量的结论，相对于测纯金属、合金含量分析，我认为XRF测试仪是比ICP测试仪更合适!我们实验室就是把XRF测试仪+ICP测试仪配合起来用，利用XRF测试仪定性优势配合ICP测试仪前处理及基体匹配，从而做到定量方便快捷。C：这个要看你的待测组分的含量和你的测试要求了，毕竟这两台仪器的各有各的优势和缺点。我建议买一台EDXRF测试仪就够了，能快速无损定性半定量。你送出去测试前做一次心里有个底，找个靠谱的通过CNAS认证的实验室做一下，基本问题不会很大，真的要购买仪器的话这个真心没有底。有的公司就为了测催化剂中的氯买了一台40W美元的WDXRF测试仪。D：请果断选择ICP测试仪，虽然价格和使用程度上来说相对困难，但是结果可靠性比XRF测试仪高出光年倍。E：XRF测试仪定性分析还是比较方便，但是定量的结果没有ICP测试仪好，就算有标样进行校正也存在误差;但是ICP测试仪比较适合微量分析，主体成分的话容易带入稀释误差。F：如果是测液体中的金属离子含量用ICP测试仪当然很好，但是只适用于微量元素，含量较好的测不出来，如果采用稀释的方法也可以，但是误差会增大，这个要看你要求的测量精度了!G：都很准的啊，但看具体元素了，一般XRF测试仪主要测固体粉末，ICP测试仪测能溶的固体和液体!H：XRF测试仪是检测物质中各种氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP测试仪一般应用于溶液中化合物离子的含量分析。多数认为XRF测试仪在表面化学分析方面很准，但是必须购买对应的标准品，用来绘制标准曲线。此外，XRF测试仪的样品需要前处理的，也必须满足很多条件，比如表面光滑、成分均匀才能保证结果的准确。比如粉碎或者融片之类的，都是为了让成分均匀。而ICP测试仪测溶液中的PPM级的元素含量。如果保证操作得当、曲线配置好的话，结果也会相当准。所以说没有不好的分析方法，只有不适合的分析方法，看了这么多的观点，您应该知道自己在面对ICP测试仪和XRF测试仪时该选择哪种方法了吧!


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