XRF测试仪产品特点：操作界面简单，测量方便，快捷无损检测，在无标准样品时亦可准确分析采用1275eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度。进口高端DSP数字处理芯片能够检测卤族元素的含量电控全自动机盖升降软件控制同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的X光管的寿命外观高贵，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰采用独特位快速自动校准。自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成国际ling先的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、网络算法等客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。


XRF测试仪产品介绍及应用范围：环保是世界的潮流，不断出现的环境污染事件，世界各国都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值呈日渐降低的趋势。面对这市场需求，秉谱仪器，无微不至的精神，采用zui新技术，特别设计了520L系列的X荧光光谱仪。应用领域：金属冶金行业微量元素的分析及金属中微量有害元素的分析环保土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析金属成品制造行业树脂膜层中微量元素的分析,贵金属行业中微量对人体有害元素微量元素的分析,稀土行业中微量元素的分析,金属镀层行业金属镀层亚纳米级厚度的分析,外贸出口行业中对人体有害元素微量的分析,玩具出口行业中八大中金属微量元素的分析.
XRF分析仪器是利用X射线无损检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 9000正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业先进的极速探测器技术（X-SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器专利产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

性能优势

快—1秒钟出结果
采用行业先进的极速探测器技术——（X-SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
采用行业先进的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达1000Wcps
采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：激发效率更高
光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，
关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9
稳定性：0.02
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

合金测试高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技术指标：
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV

ICP测试仪和XRF测试仪哪个更适合?选ICP测试仪还是XRF测试仪?这恐怕对于工作内容主要做催化剂的原料和成品的金属含量分析的实验员来说，是很容易出现的疑问了。如果从购置价格、使用成本和方便程度、分析结果可靠性等几个方便，到底哪种方法更胜一筹?XRF测试仪除了被用来进行材料表面的定性检测，可用来测量元素的总含量吗?准确吗?ICP测试仪检测是仅仅对元素进行表面定性分析吗?它跟XRF测试仪有什么区别?针对这些疑问，看看七嘴八舌的们如何说?你挺谁?XRF测试仪不但在元素定性上有ICP测试仪无可比拟的优点，同时在定量上同样可以和任何一种元素分析仪器相媲美(和制样有关)。所以这条上应该是XRF测试仪和ICP测试仪都可以定量。A：XRF测试仪，样品基本不用前处理，而用ICP测试仪，样品需要进行化学处理为溶液。对于XRF测试仪来说，样品的前处理有很大的技巧性。块状金属，基本上磨一下测量面就可以了，非块状样品如果采用压片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效应会比较严重。采用熔融法肯定是处理样品的一种方式了，只不过形成的是一种固体溶液。而ICP测试仪毫无疑问必须溶成溶液。B：XRF测试仪可以迅速定性，元素定性方面无人能比，像红外在有机官能团定性一样迅速。定量方面，相比看来ICP测试仪定量较为简单实在，易于操作。XRF测试仪做标样和样品处理需要配套的制样设备，包括压片机和熔样炉等，不易操作。但是不能下XRF测试仪不能定量的结论，相对于测纯金属、合金含量分析，我认为XRF测试仪是比ICP测试仪更合适!我们实验室就是把XRF测试仪+ICP测试仪配合起来用，利用XRF测试仪定性优势配合ICP测试仪前处理及基体匹配，从而做到定量方便快捷。C：这个要看你的待测组分的含量和你的测试要求了，毕竟这两台仪器的各有各的优势和缺点。我建议买一台EDXRF测试仪就够了，能快速无损定性半定量。你送出去测试前做一次心里有个底，找个靠谱的通过CNAS认证的实验室做一下，基本问题不会很大，真的要购买仪器的话这个真心没有底。有的公司就为了测催化剂中的氯买了一台40W美元的WDXRF测试仪。D：请果断选择ICP测试仪，虽然价格和使用程度上来说相对困难，但是结果可靠性比XRF测试仪高出光年倍。E：XRF测试仪定性分析还是比较方便，但是定量的结果没有ICP测试仪好，就算有标样进行校正也存在误差;但是ICP测试仪比较适合微量分析，主体成分的话容易带入稀释误差。F：如果是测液体中的金属离子含量用ICP测试仪当然很好，但是只适用于微量元素，含量较好的测不出来，如果采用稀释的方法也可以，但是误差会增大，这个要看你要求的测量精度了!G：都很准的啊，但看具体元素了，一般XRF测试仪主要测固体粉末，ICP测试仪测能溶的固体和液体!H：XRF测试仪是检测物质中各种氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP测试仪一般应用于溶液中化合物离子的含量分析。多数认为XRF测试仪在表面化学分析方面很准，但是必须购买对应的标准品，用来绘制标准曲线。此外，XRF测试仪的样品需要前处理的，也必须满足很多条件，比如表面光滑、成分均匀才能保证结果的准确。比如粉碎或者融片之类的，都是为了让成分均匀。而ICP测试仪测溶液中的PPM级的元素含量。如果保证操作得当、曲线配置好的话，结果也会相当准。所以说没有不好的分析方法，只有不适合的分析方法，看了这么多的观点，您应该知道自己在面对ICP测试仪和XRF测试仪时该选择哪种方法了吧!
秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。



主机标准配置：

上照式光路系统直射模式 SDD探测器 数字多道处理器 美国进口高压

进口牛津铍窗X射线管 智能测试软件 校正模块内置 封闭式定向散热系统

高阻尼可动防震缓冲支脚 定制CCD高清摄像头

整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵



录井行业应用案例

l 岩心成份普查：

仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。



l 现时分析

能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟；



l 现场分析

独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务；



仪器性能优势：

仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；

测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；

准直器极大化设计使样品受激光斑达mm2 保证测试的丰富性，提高测试度

封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；

分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；

高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；

大面积厚晶体SDD探测器，配上RhX光管以及良好的散热性，有力地确保测试高效稳定；

X射线屏蔽设计和高材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；

国产xrf光谱仪介绍

EDX4500 国产X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、材料中元素的快速、准确分析。
该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

性能特点

专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99
同时分析元素：24种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度：0.05 （对含量96以上元素）
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA

标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 650×608×466 mm
样品腔尺寸：?315×95mm
重量：105kg

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE），提高处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去

测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球的合金分析技术，配备合金测试效果的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。



EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。

性能特点:

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
针对合金的测试而开发的专用配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE），提高处理能力25倍以上
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

标准配置：

合金测试高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器 SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

技术指标：

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
分析精度：0.05（含量高于96以上的样品、21次测试稳定性）
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

应用领域：

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的新型高端测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现超高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维平台及高清工业摄像头，实现样品定位。（可对99.99黄金进行有效分析）

性能特点

快,1秒钟出结果
1、采用行业先进的极速探测器技术——（SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业先进的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度

精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点

多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试

超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
可高效区分99.9及99.99黄金纯度
可测量贵金属中有害元素，铅、镉等

人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫(S)～铀(U)
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
元素含量分析范围：2ppm～99.99
探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV
管流：≤1000uA
管压：5～50kV
测量时间：1s或以上(可调)
滤光片：4种滤光片切换
准直器：8种准直器自动切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源

仪器配置

SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密平台
光闸系统
样品观测系统

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