本产品是在天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的新型高端测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现超高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维平台及高清工业摄像头，实现样品定位。（可对99.99黄金进行有效分析）

性能特点

快,1秒钟出结果
1、采用行业先进的极速探测器技术——（SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业先进的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度

精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点

多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试

超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
可高效区分99.9及99.99黄金纯度
可测量贵金属中有害元素，铅、镉等

人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫(S)～铀(U)
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
元素含量分析范围：2ppm～99.99
探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV
管流：≤1000uA
管压：5～50kV
测量时间：1s或以上(可调)
滤光片：4种滤光片切换
准直器：8种准直器自动切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源

仪器配置

SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密平台
光闸系统
样品观测系统
XRF分析仪器是利用X射线无损检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到0CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

XRF测试仪产品特点：操作界面简单，测量方便，快捷无损检测，在无标准样品时亦可准确分析采用1275eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度。进口高端DSP数字处理芯片能够检测卤族元素的含量电控全自动机盖升降软件控制同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的X光管的寿命外观高贵，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰采用独特位快速自动校准。自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成国际ling先的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、网络算法等客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。


XRF测试仪产品介绍及应用范围：环保是世界的潮流，不断出现的环境污染事件，世界各国都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值呈日渐降低的趋势。面对这市场需求，秉谱仪器，无微不至的精神，采用zui新技术，特别设计了520L系列的X荧光光谱仪。应用领域：金属冶金行业微量元素的分析及金属中微量有害元素的分析环保土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析金属成品制造行业树脂膜层中微量元素的分析,贵金属行业中微量对人体有害元素微量元素的分析,稀土行业中微量元素的分析,金属镀层行业金属镀层亚纳米级厚度的分析,外贸出口行业中对人体有害元素微量的分析,玩具出口行业中八大中金属微量元素的分析.

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 9000正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业先进的极速探测器技术（X-SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器专利产品精密的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

性能优势

快—1秒钟出结果
采用行业先进的极速探测器技术——（X-SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
采用行业先进的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达1000Wcps
采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：激发效率更高
光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
超小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，
关机前可设定声光提示

技术参数

测量元素范围：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9
稳定性：0.02
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。



主机标准配置：

上照式光路系统直射模式 SDD探测器 数字多道处理器 美国进口高压

进口牛津铍窗X射线管 智能测试软件 校正模块内置 封闭式定向散热系统

高阻尼可动防震缓冲支脚 定制CCD高清摄像头

整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵



录井行业应用案例

l 岩心成份普查：

仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。



l 现时分析

能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟；



l 现场分析

独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务；



仪器性能优势：

仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；

测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；

准直器极大化设计使样品受激光斑达mm2 保证测试的丰富性，提高测试度

封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；

分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；

高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；

大面积厚晶体SDD探测器，配上RhX光管以及良好的散热性，有力地确保测试高效稳定；

X射线屏蔽设计和高材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；


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