本产品符合国标GB/T 43-2013对仪器分辨率的要求，EDX 3000采用Si-Pin半导体探测器，远胜于正比计数探测器； 准确无误地分析黄金， 铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量。

性能特点

长效稳定光管
半导体硅针电制冷系统，摒弃液氮制冷
特别开发应用软件，操作界面十分友好
内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
数字脉冲处理器，数据处理快速准确
放大电路、高低压电源
单样品腔，手动开关机盖，操作安全、方便
三重安全保护模式
多变量非线性回归程序
相互的基体效应校正模型

标准配置

Si-PIN半导体探测器、数字多道分析系统、X光管、高低压电源
准直器滤光片系统、样品观测系统、电子控制系统、计算机及打印机

应用领域

质检中心
金银珠宝首饰店
首饰加工厂
贵金属冶炼厂
典当行
分析测试中心
贵金属回收
贵金属分析仪
硬件独特性：符合严格的辐射防护标准的同时更具备简易的样品放置和耗材更换模式。探头指标高，性能好，寿命长；全新32位软硬件系统，工作可靠，效率高；配备高清晰的摄像定位系统，测量更直观、方便、快捷。配置固定样品用多轴向夹具。
激发源：Mo的X光管风冷（无辐射）
测量点尺寸：1～2mm
样品室：长400mm×宽：300mm×高：0～90mm样品放大成像系统
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机：选择配置
检测器：固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格：
电压：100～127或200～240V，50／60Hz
功率：120W
处尺寸：500mm＊500mm＊400mm
重量：48kg
技术指标
分析范围：1～99.99
测量时间：自适应
测量精度：±0.1
测试环境：常温常态
分析元素：Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD、W
X射线源：X射线光管
高压器：4～50Kv
分析：多通道模拟
操作系统：Windows2000／Me／XP
镀层测量：
镀层厚度范围＜30μm
可测量元素种类：Au、AG、PT、Pd、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD
测量层数：5层
测量精度：0.03μm

贵金属分析仪
一、产品信息：
本仪器专门针对贵金属测试，采用新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用于全球的基本参数法，能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素，其稳定性和可靠性均处于业内水平。
二、应用领域：
贵金属(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相关制品的生产、销售、回收的检测；
用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。
三、功能：
开放式工作曲线，可以根据需求建立新工作区
经验系数法和基本参数法相结合
测试样品：各种不同形状样品，满足大样品测试需求
安全性能：迷宫式设计，完全达到辐射安全指标
测试操作简单，实现傻瓜式操作模式
报告模板多样化，适应各种测试需求
四、仪器参数：
分析软件：Ux-6280专用贵金属分析软件
分析元素种类：26种元素可同时分析
分析方法：基本参数法（定量）
分析元素范围：Na-U,可同时分析26种元素
测量范围：ppm-
测量时间：100－300s
度：0.1（常量相对误差）
分辨率：149±5eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
功率：350W
外形尺寸：0（W）*474（D）*412（H）（mm3）
样品仓尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm3）
重量：约48Kg
工作环境：15－30°C，相对湿度≤85（不结露）
工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350W
五、标准配置：
探测器：2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm2；Be窗厚度为1mil
高压电源：高压范围0-50kV，功率50W，8h稳定性0.05
X射线管：专用薄铍窗侧窗X射线管（Mo、Rh）
高清摄像头装置
定位装置
自动开盖装置

贵金属分析仪性能及配置
分析范围 1ppmto99.99
测量精度 RSD≤0.015 Au≥90
测试形态固体、粉末、液体
光管电压 5KV~50KV（USA）
高压电源 0~50KVSpelln(USA)
光管管流 0μA~1000μA
摄像头 高清摄像头
滤光片 可选择多种定制切换
探测器 SDD（USA）
分辨率 ±5eV
多道分析器 DMCP
样品腔尺寸310*280*60（mm）
测试时间 30sec~100sec
感兴趣元素贵金属 Au,Ag,Pt,Pd,Ru,Rh,W,Os,Ir,etc(等).
基本金属 Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Cd,Sn,Pb,etc（等）.
分析软件FP定性定量分析软件
外部尺寸380*372*362（mm）
重量 31Kg
仪器环境要求
环境温度15°C~30°C
相对湿度35~75
电源要求AC220V±5V,50/60HZ,附近无大功率电磁和振动干扰源

贵金属分析仪特点
1.美国进口SDD探测器
2.“一键智能测试”技术，可测70多种元素
3.测量精度高达0.015
4.峰飘率在百万分之一内
5.区分99.99金、99.97金、99.95金、99.93金和99.90金
6.仪器稳定性及重现性好
贵金属分析仪性能及配置
分析范围 1ppmto99.99
测量精度 RSD≤0.015 Au≥90
测试形态固体、粉末、液体
光管电压 5KV~50KV（USA）
高压电源 0~50KVSpelln(USA)
光管管流 0μA~1000μA
摄像头 高清摄像头
滤光片 可选择多种定制切换
探测器 SDD（USA）
分辨率 ±5eV
多道分析器DMCP
样品腔尺寸310*280*60（mm）
测试时间 30sec~100sec
感兴趣元素贵金属 Au,Ag,Pt,Pd,Ru,Rh,W,Os,Ir,etc(等).
基本金属 Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Cd,Sn,Pb,etc（等）.
分析软件FP定性定量分析软件
外部尺寸380*372*362（mm）
贵金属分析仪器的独特优势
：ppm级度，可靠的检测数据
便捷：电脑一体机、集成工业计算机，双触摸屏显示设计，操作流畅便捷
快速：3秒内可对样品定性识别，60秒内可得出测试结果
直观：高清晰图形即时显示，检测结果直观明了
安全：加装防辐射装置，主动保护操作人员安全
经济：价格便宜，测试过程基本不需要任何耗材
1、无需对样品做前期处理，简单、方便、快捷地实现贵重金属的无损检测。
2、具有自主知识产权的探测器保护装置，能限度保护探测器，提高其使用寿命，降低客户使用成本。
3、独创自动选择校准曲线功能，保证贵金属测试结果的准确可靠
4、自主研发的形状补偿功能，能根据样品的形状大小，自动实现形状补偿。
5、采用高清晰摄像头对首饰进行定位。
6、高精度数字多道采集系统，解决峰道漂移带来误差。
7、独特的智能风冷实现仪器冷却的智能化。
8、集成工业计算机，采用一键式操作界面，操作灵活，使用方便，即学即会。
9、一键式打印功能，轻松实现测量报告打印。


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