X射线荧光光谱仪(真空型)配置真空测试系统以及SDD（硅漂移）探测器，元素测试范围更广、检出限更低、数据稳定性更好。广泛应用于电子、电器、塑胶塑料、五金、玩具、包装印刷以及军工产品等公司内部进行质量把控。适用于ROHS检测、卤素测试、玩具重金属检测和合金元素分析等各领域使用。

探测器：美国Amptek SDD探测器，高速脉冲高效分析系统；

2、高压电源：美国Spelln (50kv/)；

3、X射线管：新型X光管；

4、能量分辨率：140±5ev；

5、元素分析范围：钠（Na）到铀（U）；

6、分析含量：1ppm到99.99；

7、测量时间：60—300s；

8、交流220v供电设备，1KVA交流净化稳压电源；

9、工作温度：10—30℃；

10、测量条件：大气环境；

适应各种合金成分分析
高分辨率高稳定性探测器
可靠、稳定高压电源和X光管，测试结果稳定、准确
先进、准确、多元的分析软件和分析方法

软硬结合的防辐射设计
自动设置参数和滤光片
操作简单，一键式操作设计
快速无损分析样品
超温保护，超载保护
无需耗材

天瑞根据多年的RoHS检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
性能特点
专业RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍以上
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
智能RoHS检测软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单
技术指标
测量元素：从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围：1ppm-99.99
RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达 1ppm
测量时间：60-300s
能量分辨率：165±5eV
管压：5-50 kV
管流：50-1000μA
标准配置
信噪比增强器
独特的光路增强系统
电制冷硅针半导体检测器
内置高清晰摄像头
自动切换准直器和滤光片
的平台
加强金属元素感度分析器
相互的基体效应校正模型
任意多个可选择的分析和识别模型
应用领域
电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测

X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测

天瑞仪器新研发的仪器，专门针对于水泥行业，矿产行业等研发出来的，内置自动转盘，可同时测试多个样品，操作简单方便

性能特点

专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技术指标

元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70
工作电压：AC 110V/220V

标准配置

高效超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg

应用领域

水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测
设备可以有效的对检测、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒等引起土壤及固废污染：主要来自厂矿排放的含废水，能在土壤中长期存在；镉、铅污染主要来自冶炼排放和汽车废气沉降，如公路两侧的土壤易受铅的污染；土壤的砷污染主要来自大量用作杀虫剂、剂、 杀鼠剂、除草剂和硫化矿产的开采、选矿、冶炼。

l 土壤重金属普查：

超高精度分析，微量金属元素成分尽在掌握。可以对各类居住用地、商业用地、工业用地等一级二级三级用地进行大量的土壤重金属分析普查

l 大量土壤重金属污染样筛查

通过自动进样器对大量污染样器行自动分析。可以在很短的时间内圈点重点土壤污染区，进行重点优选治理。快速分别污染区与非污染区。整体提高了筛查生产效率，极大的减少化验和运输费用。

l 高性能配件提升效果

选用自主研制的数字多道及原装进口超高分辨率探测器，提高设备的稳定性及元素之间的相互干扰，并提高了元素的检出限。




SEE 100

SEE 100属于江苏天瑞仪器股份有限公司自主研发的产品，设备采用了能量色散X射线荧光光谱技术实现土壤中微量金属有害元素的快速检测，设备采用了先进的探测器和激发源等硬件配置。SEE 100荧光光谱仪，能够快速、准确地分析土壤中金属元素；K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Zr、Cd、Hg等元素的检出限和定量限完全满足HJ 780-2015环境保护标准要求。

技术指标

产品型：SEE 100
产品名称：土壤重金属分析仪

测量元素范围：从硫（S）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测30种以上元素
测量时间：60秒-300秒
探测器能量分辨率为：可达125eV
管压：5KV-55KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35-70

X荧光光谱仪是经济有效的检测设备，它自身灵敏、高效的特征决定了适合生产过程的监控之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、砷、锑、钡、、硒等）、包装物料的有元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度极高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
三、适用仪器
（1）型：EDX3000D
仪器介绍
更准确的检测结果是天瑞人坚持不懈的追求，同时天瑞人还时刻牢记为客户提供更优质的服务。全新开发研制的EDX 3000D正是秉承了这一理念。它不仅继承了天瑞仪器EDX系列准确、快速、无损、直观及环保五大特点，同时EDX 3000D还采用了天瑞仪器专利产品的信噪比增强器进一步提升了检测结果的准确性。
性能特点
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
自动滤光片选择
多种准直器自动切换
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
样品腔自动开关
软件定位样品平台，小位移 0.01 mm
自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
特别开发测量软件，操作界面十分友好
内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击
的自动平台，更方便地调节样品位置
采用天瑞仪器专利产品--信噪比增强器 SNE，大幅提高光谱仪测量的确定性和度
配合自动平台全新开发的样品定位系统，实现“点”哪测哪
鼠标轻点样品视图中需要检测部位，EDX 3000D 将样品至指定位置，完成检测。
技术指标
型：EDX 3000D
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
元素含量分析范围为1 PPm到99.99
RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达1PPM；
测量时间：60-200秒
能量分辨率为155±5电子伏特
管压：5~50KV
管流：50~1000μA
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
三维度超大的样品腔设计，样品腔尺寸：Φ450 x 90 mm
一次可同时分析24个元素

用大功率的X射线照射样品，样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线，不同元素的特征能量各不相同，通过半导体探测器分别测量不同元素特征能量的X射线的强度，就可以进行定性分析。而样品受激发后发射的某一元素的特征X射线强度与元素在样品中的含量有关，因此通过建立元素与含量的数学模型后，就能对元素进行定量分析。

目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限可达0.0pm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量，射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》，有第三方测试机构出具仪器安全性（辐射计量）测试报告。

、可检测食品中重金属元素镉(Cd)、铅(Pb)、砷(As)、硒(Se)等多种元素

2、无损快速检测，检测前无需样品前处理，也无需热机，开机即测，仪器轻巧便携，可车载使用

3、仪器具有声光提示功能

4、 3分钟内快速筛查，小于15分钟内准确定量

5、软件简单，智能化设计，一键测试，简单方便，模式分为筛查模式和定量模式，权限分级为（专家模式）和操作员（测试模式）

6、仪器环境适用性强，稳定可靠，可用于收购现场使用

7、无试剂耗材，绿色环保，对环境无二次污染

8、专利技术信噪比增强器，降低背景噪声，增大有效，提高信噪比可达25倍

9、仪器具备辐射安全许可证，且对设备进行三重X射线屏蔽设计，保证了环境下无辐射泄漏，让测试人员安全放心的使用

10、硬件联动装置，权限安全锁，保证软件失效的情况下还能对设备进行控制，保证设备在使用中的安全无放射

11、在EDX 3200S PLUS仪器基础上的突破就是一体机设计，电脑与设备合二为一，触摸屏操作，一键测试，软件更简单、方便

12、在EDX 3200S PLUS特点上增加了54位自动进样系统，一次可以放置批量样品，设备自动顺序批量检测，提高效率

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